PerkinElmer NexION 2000 ICP-MS作为新一代高端质谱，在半导体和高端材料行业应用广泛。但采样锥和截取锥的异常损耗是用户运行成本的大头。

锥体损耗快的首要原因是样品前处理不当。含高浓度溶解固体（TDS>0.2%）、氢氟酸未彻底赶尽、有机物未消解完全，都会加速锥孔扩大。其次是真空差压控制失效导致锥体承受额外热负荷。还有用户为节省时间跳过开机后的锥体条件化步骤，新锥直接上样导致不可逆损伤。

建议建立锥孔孔径的定期测量记录，当信号下降超过30%或氧化物比异常升高时，意味着锥体已到更换临界点。更换时务必选择高精度加工的原厂级锥体——我们长期备有NexION全系锥体现货，价格低于原厂报价，保品质可验证。同时回收闲置NexION系列整机及配件，以旧换新更划算。设备运维有难题？欢迎加微信咨询。